K21芯片tamper测试问题求助

蓝天-412520

 目前在测试K21（K21P121M100）的tamper时，遇到如下问题：
 
1、 当设置采样周期为8个周期时：
    当设置成高电平触发时，测得6个周期拉低，2个周期拉高；
    当设置成低电平触发时，测8个周期均为低电平；
 
    那么对于设置成高电平触发或者低电平触发，其空闲周期所处的状态是否都为低电平？如果是都为低电平的话，那样当     设置成低电平触发后不是一直触发？


2、  为什么在设置采样后动态防拆的功耗跟着降低了？采样周期的设定也会影响到动态防拆吗？
 
3、  对于纽扣电池的功耗，当动态防拆开启时，两路叠加有二十几微安，而四路（两路动态，两路静态）全开时却只有十       几微安，这主要是什么造成的呢？
 
4、  动态频率设置为512Hz时，为什么只有一路可以，另一路依旧为1Hz呢？

 
6、  将静态tamper配置成外部上下拉（电阻阻值设置为220K）后，静态功耗降低，为什么动态功耗也降低了？

以上问题一直未能解决，有对这款芯片有测试了解过的帮忙分析解答下，小弟感激不尽！！！

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安

是说RTC的tamper功能吗？

蓝天-412520

回复第 2 楼 于2013-10-30 14:37:26发表:
是说RTC的tamper功能吗？嗯，对的，问题如上，能够帮忙解答下吗？