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[已解决] 测试芯片复位问题(已解决)

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发表于 2013-12-4 16:05:38 | 显示全部楼层 |阅读模式
芯片型号:MPC5565
最近从FSL得到这样一个回复:上电,观测clkout和XTAL信号,如果clkout拉低且XTAL翻转,则证明MCU上电存在周期性复位不良。其原文如下:
If part is reset, the clkout will be seen as having a low signal and XTAL toggled. 
但是不理解,对此是否有资料给过解释?还望指点。
官网回复比较慢,且英文沟通也麻烦,所以先到论坛里请教请教
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发表于 2013-12-4 17:39:33 | 显示全部楼层

回复:测试芯片复位问题

请问你是在community上问的,还是提交的SR?如果是Community, 方便给个链接么?如果提交的SR, 请告知SR number。我去看看上下文,谢谢
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 楼主| 发表于 2013-12-5 14:08:09 | 显示全部楼层

回复:测试芯片复位问题

回复第 2 楼 于2013-12-04 17:39:33发表:
请问你是在community上问的,还是提交的SR?如果是Community, 方便给个链接么?如果提交的SR, 请告知SR number。我去看看上下文,谢谢
 
问题我已发往SR了,SR number: 1-1236838372。 至于FSL的回复来自于FSL的FQE貌似有点凌乱,呵呵!
 
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发表于 2013-12-5 16:12:52 | 显示全部楼层

RE:测试芯片复位问题

建立SR后,就会有工程师接的。楼主这点可以放心!!
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