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[已解决] 芯片中的ESD参数是如何测量得到的?(已解决)

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发表于 2014-2-28 11:08:49 | 显示全部楼层 |阅读模式

请问,datasheet中以上参数是如何得到的?
其中HBM是直接将2000V的静电直接加到芯片的IO上吗?是加在那个IO上呢?
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    发表于 2014-2-28 11:39:31 | 显示全部楼层

    回复:芯片中的ESD参数是如何测量得到的?

    楼主你好,数据手册关于ESD handling ratings表格后面都会注明测试标准的。
    比如KL25的数据手册上就标注了按照JEDEC Standard JESD22-A114标准测试的。
    ESD standard.jpg
    该会员没有填写今日想说内容.
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     楼主| 发表于 2014-2-28 12:21:37 | 显示全部楼层

    回复:芯片中的ESD参数是如何测量得到的?

    回复第 2 楼 于2014-02-28 11:39:31发表:
    楼主你好,数据手册关于ESD handling ratings表格后面都会注明测试标准的。
    比如KL25的数据手册上就标注了按照JEDEC Standard JESD22-A114标准测试的。

     

    好的,谢谢。
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    发表于 2014-3-25 17:30:32 | 显示全部楼层

    RE:芯片中的ESD参数是如何测量得到的?(已解决)

    学习了,感谢版主的回复!!
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