求助关于KEA8 ADC的奇怪问题

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各位FSL的大神，请帮忙给小弟看下我调试过程中遇到的这个奇怪问题。
我ADC配置成如下工作方式
12位精度，4级FIFO模式，连续转换，每次完成转换后，在中断函数里取回转换结果并存到数组里。
但是我发现这种工作方式下，如果我主函数里不写任何操作，只运行while(1)的话，转换结果很稳定，比如转换的内部带隙基准，只有1~2个LSB的跳动。
但是，如果我在主函数中运行任何代码的话，比如对某变量自加1或者判断某变量的话，转换结果就会有很严重的波动。带隙基准采样的结果大概上下会有40mV左右的波动范围。
这个现象太奇怪了，能帮忙给一些参考建议吗？
附初始化代码如下：
void ADC_Init(void)                                                                                                                       
{
        PMC->SPMSC1 |= PMC_SPMSC1_BGBE_MASK ;                                       
        SIM->SCGC |= SIM_SCGC_ADC_MASK;                                               
        ADC->SC3 |= ADC_SC3_ADICLK(CLOCK_SOURCE_ADACK) ;       
        ADC->SC3 |= ADC_SC3_ADIV(ADC_ADIV_DIVIDE_4) ;               
        ADC->SC3 |= ADC_SC3_MODE(ADC_MODE_12BIT) ;                       
        ADC->SC4 |= ADC_SC4_AFDEP(ADC_FIFO_LEVEL4) ;               
        ADC->SC1 |= ADC_SC1_ADCO_MASK ;                                                                       
        ADC->SC1 |= ADC_SC1_AIEN_MASK ;                                                                       
        ADC->SC3 |= ADC_SC3_ADLSMP_MASK ;                                                               
}

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FSL_TICS_ZJJ

楼主中断函数中是怎么处理的？
把代码贴出来看看。

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FSL_TICS_ZJJ 发表于 2015-8-13 09:56
楼主中断函数中是怎么处理的？
把代码贴出来看看。

如下是中断代码，而且我今天试验发现的新现象是，如果在启动转换后，通过WFI把MCU休眠掉，等ADC中断唤醒MCU，这个现象就会有很大改善，这跟PCB设计有关系吗？如果内核会对AD引入噪声，那到车上就更蛋疼了啊！
void ADC0_IRQHandler(void)
{
        Cnt_Adc ++ ;
        if(Cnt_Adc >= 4)
                Cnt_Adc = 0 ;
       
        ADCR_B[Cnt_Adc]  = ADC->R ;
        ADCR_BG[Cnt_Adc] = ADC->R ;
        ADCR_F[Cnt_Adc]  = ADC->R ;
        ADCR_T[Cnt_Adc]  = ADC->R ;

}

FSL_TICS_ZJJ

123123-359596 发表于 2015-8-13 15:40
如下是中断代码，而且我今天试验发现的新现象是，如果在启动转换后，通过WFI把MCU休眠掉，等ADC中断唤醒M ...

你有没有试过不加FIFO，你那边连续采样，然后按照一楼条件测试，效果好点吗？

FSL_TICS_ZJJ

楼主你好！
你选择的ADC通道是bandgap吧？
有没有试过测试其他的，比如VREFH，TEMP等。
我这边也试了，bandgap测试的确是有浮动，不过关于bandgap，datasheet规定了范围，大概就有40mV的间隙，这个不是准确的1V，范围是1.14到1.18V。