LPC 824 I2C问题

小恩GG

longdelu 发表于 2016-11-10 18:25
如果代码没有问题（其实我个人认为是没有问题的），我在官方代码的基础上只是写了一个测试用例而已，如果 ...

楼主你好！
我这边再做一个长时间测试试试，目前已经跑了一个小时没有出问题，不过我这边上拉是2.2K的。
你现在那边如果有条件，跑两个板子，不挂任何测试设备看看是否会死机。
1. 上拉2.2K，400K速率跑
2. 上拉2.2K， 200K速率跑。
引脚都用PIO0_12，PIO0_13.
看看多久会死机。

longdelu

小恩GG 发表于 2016-11-11 09:53
楼主你好！
我这边再做一个长时间测试试试，目前已经跑了一个小时没有出问题，不过我这边上拉是2.2K的。
...

我想说，你那边的测试现像和我的较为吻合，当初我这边接上拉电阻非常小的时候，试过接了一个1.5K左右的上拉电阻阻值，发现的确是较稳定，很久是没有测到这个问题，想说，为什么接4.7K或10K时速率降到200K左右，发现在DEBUG的时候还是很容易死机，就算我没接任何测试设备，你那边4.7K或10K的时候，没接测试设备可以复现这个问题吗？还有，你觉得我写的这个测试用例的程序是否有问题？PS:方便留个其它联系方式沟通吗？有时候论坛反馈不是很及时，谢谢

小恩GG

longdelu 发表于 2016-11-11 10:16
我想说，你那边的测试现像和我的较为吻合，当初我这边接上拉电阻非常小的时候，试过接了一个1.5K左右的上 ...

我这边情况是这样的，如果不挂外部设备，那么debug和退出仿真都还没出现问题，现在退出仿真一直在运行测试中。
挂上外部设备，意味着总线上面的电容加大，时间值加大，I2C动态特性变差，而且测试速率已经在400K，也就是I2C1的极限值情况下，如果动态特性一旦变差，很容易出现问题。
上拉电阻加大，道理和总线电容加大也是一样，因为时间（tao值）t=RC。
你那边改变为1.5K的时候，测试多久没有问题？
你可以看看datasheet，I2C的动态特性，看看出现问题的时候，各个动态值是否还在范围内？
你说的debug也有问题，那么把上拉改为你之前说的1.5K,不加逻辑分析仪，不加示波器，看看是否出问题？外部设备会加大总线电容。
还有，你降低频率，同样不要加外部测试设备，是否还有问题？

关于支持方式，我们只是支持在线支持，我看到恩智浦内部也有问题帖子：
http://community.nxp.com/thread/438529
这个也是你问的吧？我也接了这个题，所以我们目前可以就在与非网中交流，比较方便。

longdelu

小恩GG 发表于 2016-11-11 10:55
我这边情况是这样的，如果不挂外部设备，那么debug和退出仿真都还没出现问题，现在退出仿真一直在运行测试 ...

你好，NXP内部的那个帖子的确是我发的，因为我在里面发现一个帖子，他报告的问题和我很类似，他用的时主控为LPC812，不过他当初报告上拉电阻为2.2K也有问题，也许和他写的代码有关系。我从这个帖子里面找不到我想的信息。http://community.nxp.com/thread/421791。

至于，你说时I2C动态特性问题，上拉电阻为10K，4.7K的时候，速率为400K，当初我用示波器测量估算了其SCL的上升沿时间为180ns~220ns,对于那种高低电平的保持时间，当初呼略没有注意到。用上拉电阻为1.5K的时候，我的确是没有测试到那个问题，测试最长时间约为一天。不过在10K或4.7K的时候，我把速率降到100K，它在DEBUG仿真是还是很容易死，不过此时我是把引换到PIO016，PIO18上面测而已。也许这跟外围硬件的确关系较长。想说，为什么用大一点电阻，速率快一点为什么都不行。感觉在LPC824上面对这些要求较其他MCU苛刻

小恩GG

longdelu 发表于 2016-11-11 11:35
你好，NXP内部的那个帖子的确是我发的，因为我在里面发现一个帖子，他报告的问题和我很类似，他用的时主 ...

测试使用1.5K之前没有遇到问题的情况，在debug下测试，看看你那边会不会有问题，千万不要加外部的测试设备。
因为其实如果用普通IO口，不是快速的IO口，它不是真开漏，内部还是有些电路的，所以如果外部的电阻大，会造成动态特性差。
我这边在debug的时候，如果不挂外部设备，还是不会出现问题。我认为挂外部设备导致问题，还是和我之前说的一样，电路外部环境变差了，导致I2C的动态特性差，容易引起问题。
速率快，其实是400K不仅达到了主机的最大值，400K也是你从机的极限值，两个都在极限值下，如果出现一些小的情况，可能就会引起总线通信问题。
另外，debug其实也是一个外部设备。

小恩GG

longdelu 发表于 2016-11-11 11:35
你好，NXP内部的那个帖子的确是我发的，因为我在里面发现一个帖子，他报告的问题和我很类似，他用的时主 ...

你说的：不过在10K或4.7K的时候，我把速率降到100K，它在DEBUG仿真是还是很容易死
有没有加外部测试器件？
你如果条件允许，不加任何测试，不加debug，1.2K上拉，400K， 然后一直跑测试看看是不是有问题。
还有，关于你的代码，如果你是项目使用，强烈不建议你使用查询方法，查询方法也容易让程序死机。建议你改用中断方式。

longdelu

小恩GG 发表于 2016-11-11 13:28
你说的：不过在10K或4.7K的时候，我把速率降到100K，它在DEBUG仿真是还是很容易死
有没有加外部测试器件 ...

10K或4.7K的时候，我没有外接测试设备，它在DEBUG下还是死机了

longdelu

小恩GG 发表于 2016-11-11 13:28
你说的：不过在10K或4.7K的时候，我把速率降到100K，它在DEBUG仿真是还是很容易死
有没有加外部测试器件 ...

想说，产生这种的现像的原因多是由硬件方面引起的对吗？或者说使用较小的电阻可以避免这个问题产生？

小恩GG

longdelu 发表于 2016-11-11 13:39
10K或4.7K的时候，我没有外接测试设备，它在DEBUG下还是死机了

外部上拉变为1.2K，原则上加1K以上是可以的。
但是具体情况要视电路动态特性来，上拉越大，动态特性越差。
然后再测试试试。
还有，你的外部EEPROM的芯片是不是正品呢？
不要外部器件质量差，跑一段时间就出问题，如果可以的话，你可以那边同样用824做从机跑跑看。

小恩GG

longdelu 发表于 2016-11-11 13:44
想说，产生这种的现像的原因多是由硬件方面引起的对吗？或者说使用较小的电阻可以避免这个问题产生？ ...

另外，你的代码，如果是产品使用，强烈建议你换为中断。
这种代码都是while的，产品中使用是很容易死机的。
不知道你的PIO0_10，PIO0_11，如果这两个引脚没有做其他的I2C使用，还是建议你使用真正的I2C引脚比较保险些。