暴力测试LPC80x的Flash寿命

NXP管管

首先声明，测试过的LPC802或者LPC804的片子基本就废了，所以您得多准备点儿样片才行。再次声明，测试环境是室温，所以测试结果比数据手册上的好很多也正常，正常使用时，咱们工程师还得以数据手册信息为主。

▼▼ 言归正传 ▼▼

昨日公司的FAE同事找@牛，要LPC802/LPC804 Flash的擦写寿命测试软件。@牛犯了嘀咕，多少年没碰上这种要求，LPC80x的Flash究竟有何魔力使得客户提出如此要求？一般MCU的Flash不就10W次或者1W次左右么？

@牛迅速打开了LPC804的数据手册, 搜索"endurance"。我 哔! 居然500K次，比一般的MCU的存储器整整高了5倍。

定睛一看数据手册中括号里的字，原来LPC804和LPC802是EEPROM工艺的Flash存储器。

作为一个板农+码农，翻出OM40001 LPCXpresso804，导好MCUXpresso SDK的测试例程，那就开始垒码调试吧。

看下室温，测试条件有限，只能室温环境了。

花了几个小时，垒好测试代码，下载见链接。

先设定个1000K(1M)次，瞅瞅看。

KEIL开发环境下，Download到板子上，打开个串口助手，等啊等，等啊等。终于等到了“Successfull”的信息。

好吧，1000K次已经远远大于手册的500K次了，当然我们是在室温下做的测试，手册上的数据是结温低于85℃下的。

另外我们再看看擦写时间，均在1.5mS内，也是符合数据手册2.5mS内的。

▼▼ 以下高能 ▼▼

这时，搞事情的想法又来了，反正还有样片，咱们暴利测试下看看多少次后Flash才会寿终正寝。

于是，就把循环测试for改成0xFFFFFFFF次，换了个Flash Page继续测试。当看到失效结果提示的时候，显示测计数值为1140475次.....

从这个测试情况来看，LPC802和LPC804的Flash寿命以及擦写时间都是符合数据手册的。

如果对此有要求的工程师可以用我的代码做测试：

   通过更改代码里的TESTBUF_SIZE，可以测试写入不同长度数据的时间。

   更改TEST_ADDR的值，可以选择不同的Flash区块。

   而更改TEST_COUNT的值，则是调整需要测试的擦写次数。

本次分享就到这里啦，看起来LPC802/804也挺适合各种传感器小模块的，随时标定自己的参数，不用太担心Flash的寿命。






作者：@牛          文章出处：恩智浦MCU加油站

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zhang7309

厉害