Kinetis复位与调试接口

linghz

一直以来，Kinetis MCU就有复位和调试器无法连接的问题。

以Kinetis K20为例，在复位状态下可以进入JTAG/SWD和EZP模式，也可能进入NMI。所以其判断逻辑是蛮复杂的。一旦复位后没有进入JTAG/SWD/EZP，由于内部看门狗的原因，MCU会重新复位。如果外部调试器无法判断这种情况，或者由于噪声和阻抗匹配问题无法连接MCU进入调试模式，就会发生用户连接SWD无法成功，而RESET引脚出现周期性复位信号的情况。

所以，这件事情的原因在于SWD/JTAG由于某些原因无法连接MCU，导致后续复位；而不是复位导致SWD/JTAG无法连接。听上去有些像鸡和蛋的关系。

直接原因

Flash中有非法指令，跳转到非法地址（所以需要上手做Mass Erase）
NMI或者中断无法退出（也需要做Mass Erase）
SWD未被使能（无法连接）
EZP引脚被拉低（进入EZP，而非调试模式）
RESET时间常数太短
SWD_CLK的时钟太高导致时钟匹配问题。
解决方法

延长时间常数，或者先不要焊接电容；
EZP引脚10K上拉，NMI引脚10K上拉；SWD_IO/TMS引脚10K上拉；
调低SWD_CLK时钟频率，或者增加串联匹配电阻；
具备JTAG接口的芯片，初始状态下先使用JTAG连接；
K20使用SWD擦除时，无需EZP上拉；
K20使用SWD调试时，EZP必须上拉；
PEmicro连接JTAG时，所有GND必须分别接地，以减少噪声影响。

调试原型硬件时，首先不要焊接过多的其他元件，只需要电源，复位和基本的SWD/JTAG调试引脚即可。其他的的晶体、USB押后再焊接。

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