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[已解决] 【求助】使用kl26的内部温度测量差异较大(已解决)

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发表于 2014-10-18 15:59:33 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 quentin 于 2014-10-30 17:14 编辑

斑竹你好,我使用KL26的内部AD进行温度测量,误差较大,主要体现在:
1.芯片上电后一段时间温度漂移3度左右;
2.不同的设备之间温度的测量差异较大;

参考的是KL25的乒乓方式进行AD采集及温度测量,但是每秒进行一次采集,所以一次温度采集需要2S,分别采集bandgap和temp sensor的值。

不知道这是KL26内部测量误差较大还是说有其他校正的方法?
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发表于 2014-10-20 09:47:15 | 显示全部楼层
你好,楼主!
对比KL25与KL26的数据手册,你会发现两者的Temp sensor slope 和Temp sensor voltage(25c)两个参数时不同的。 1.jpg

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 楼主| 发表于 2014-10-20 13:43:15 | 显示全部楼层
FSL_TICS_ZP 发表于 2014-10-20 09:47
你好,楼主!
对比KL25与KL26的数据手册,你会发现两者的Temp sensor slope 和Temp sensor voltage(25c)两 ...

谢谢,我试试看
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发表于 2014-10-20 13:55:00 | 显示全部楼层

不客气,你先试试看。
有问题,再交流!
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 楼主| 发表于 2014-10-20 14:33:04 | 显示全部楼层

替换了参数后,还是误差比较大,有什么算法进行校正的么?
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发表于 2014-10-20 17:31:12 | 显示全部楼层
quentin 发表于 2014-10-20 14:33
替换了参数后,还是误差比较大,有什么算法进行校正的么?

例程中只是按照应用手册作了最简单的温度演算,你可以采用AN3031应用手册后面的温度演算公式,甚至可以应用一些去噪的算法。
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 楼主| 发表于 2014-10-30 17:13:50 | 显示全部楼层
FSL_TICS_ZP 发表于 2014-10-20 17:31
例程中只是按照应用手册作了最简单的温度演算,你可以采用AN3031应用手册后面的温度演算公式,甚至可以应 ...

已经找到原因了,是例程中的定点浮点的问题导致的,是程序的问题
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发表于 2014-10-30 18:01:48 | 显示全部楼层
quentin 发表于 2014-10-30 17:13
已经找到原因了,是例程中的定点浮点的问题导致的,是程序的问题

你好,楼主!
恭喜你的找到问题啊!
有问题再交流!
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 楼主| 发表于 2014-10-31 10:30:55 | 显示全部楼层
FSL_TICS_ZP 发表于 2014-10-30 18:01
你好,楼主!
恭喜你的找到问题啊!
有问题再交流!

谢谢,官方例程中有个地方需要改下:
    Vdd_Cal = 655350 / result_A;
应该改为
    Vdd_Cal = 655350.0 / result_A;
否则会使用定点进行计算,结果不正确
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发表于 2014-10-31 11:03:13 | 显示全部楼层
quentin 发表于 2014-10-31 10:30
谢谢,官方例程中有个地方需要改下:
    Vdd_Cal = 655350 / result_A;
应该改为

你好,楼主!
由于把result_A,Vdd_Cal定义成浮点数,严格来说,确实有必要也将65550变换成65550.0.
谢谢你的建议。
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